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J-GLOBAL ID：200903017758932430

孔計測における画像処理方法

Inventor： 山岡 直次 ,  小田 幸治
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 北村 欣一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993047764
Publication number (International publication number)：1994258024
Application date： Mar. 09, 1993
Publication date： Sep. 16, 1994
Summary：

【要約】【目的】 ワーク表面に形成されたスリット光の照射像を撮像するカメラの画面上で、ワークに形成した孔の孔縁に合致する照射像の端点の位置をばらつき無く精度良く測定できるようにする。【構成】 各照射像I1、I2の各端点寄りの部分が含まれるように各ウインドW1〜W4を設定し、各ウインド内の照射像の重心G1〜G4の位置を求める。端点から離間する方向にのびる照射像の部分が交差するウインドの所定辺を基準にして、該所定辺からの距離が重心のそれの2倍となる点を端点A〜Dとしてその位置を算定する。孔縁に沿って湾曲してのびる照射像の先端点の検出位置は画素の受光量の微小な変化でばらつくが、重心位置に基づいて端点の位置をばらつき無く算定できる。

Claim (excerpt)：

ワークの表面にワークに形成した孔を横切るようにスリット光を照射して、スリット光の照射像を撮像手段で撮像し、孔の孔縁に合致する照射像の端点の位置を撮像手段の画面上で計測する際の画像処理方法において、撮像手段の画面に照射像の端点寄りの部分が収まるようにウインドを設定し、該ウインド内における照射像の重心の位置を求め、画面上にとった2つの座標軸のうち端点から離間する方向にのびる照射像の部分が交差するウインドの所定辺に直角な一方の座標軸における端点の座標値を、該一方の座標軸における前記重心の座標値の2倍値から該一方の座標軸における前記所定辺の座標値を減算した値として求めることを特徴とする孔計測における画像処理方法。

IPC (4)：

G01B 11/00 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/64 320 ,  G06F 15/70 360