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J-GLOBAL ID：200903017781223170
偏波分散測定方法及び装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
菅 隆彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992185542
Publication number (International publication number)：1994034447
Application date： Jul. 13, 1992
Publication date： Feb. 08, 1994
Summary：
【要約】【目的】全ての偏光状態における、高安定な偏波分散測定方法及び装置を提供するものである。【構成】波長可変光源1の光信号L1を、偏光制御手段5で任意の偏光状態かつ任意の偏光主軸方向にして、測定対象6に入射し、当該測定対象6から出射された光信号L3を偏光解析手段7で解析して、当該光信号L3の、波長に対する偏光状態の変動を示す余弦波状の周期関数において前記光信号の位相差がπ又はπ/2となる波長と波長の間の山(谷)の数Nより、前記光信号L3の直交する偏光状態の群遅延時間、すなわち偏波分散τを求めることを特徴とする。
Claim (excerpt)：
波長可変光源の光信号を、偏光制御手段で任意の偏光状態かつ任意の偏光主軸方向にして、測定対象に入射し、当該測定対象から出射された光信号を偏光解析手段で解析して、当該光信号の、波長に対する偏光状態の変動を示す余弦波状の周期関数において前記光信号の位相差が所定角となる波長と波長の間の山(谷)の数より、前記光信号の直交する偏光状態の群遅延時間、すなわち偏波分散を求めることを特徴とする偏波分散測定方法。
IPC (2)：
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