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J-GLOBAL ID：200903017828562296

計測器の異常検出方法とその装置

Inventor： 平林 和也 ,  金谷 利憲 ,  津村 和志
Applicant, Patent owner： 株式会社安川電機
Agent (1)： 西村 政雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994334290
Publication number (International publication number)：1996166820
Application date： Dec. 15, 1994
Publication date： Jun. 25, 1996
Summary：

【要約】【目的】 計測器の異常検出方法において、従来例では各計測値の標準偏差あるいは四分位数を用いているが、異常頻度が正規分布しない場合は誤差が多く、これを解決する手段を求める。【構成】 計測値を用いて相対累積頻度の第1四分位点から第2四分位点までの距離H1及び第2四分位点から第3四分位点までの距離H2を求め、その2つの距離を基準として前者をヒンジ幅1、後者をヒンジ幅2としての重み付けを行った四分位数を用いて成る。

Claim (excerpt)：

プロセスの状態を計測する計測器の異常を検知する異常検出方法において、前記計測器による計測値を蓄積し、蓄積された前記計測値の相対累積度数の第1四分位点から第2四分位点までの距離H1をヒンジ幅1、第2四分位点から第3四分位点までの距離H2をヒンジ幅2とし、過去の計測値からヒンジ幅1及びヒンジ幅2を求め、前記ヒンジ幅1及びヒンジ幅2を基準に決定した基準範囲に基づいて新しく蓄積された計測値の異常を検出することを特徴とする計測器の異常検出方法。

IPC (4)：

G05B 23/02 302 ,  G05B 23/02 ,  G01D 21/00 ,  G08B 21/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平1-180098
  
• 成形機のモニタ条件設定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-274283   Applicant：東洋機械金属株式会社