Pat

J-GLOBAL ID：200903017838160188

分光光度計

Inventor： 藤井 稔子 ,  宮原 裕二 ,  渡辺 ▲吉▼雄
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991301523
Publication number (International publication number)：1993142142
Application date： Nov. 18, 1991
Publication date： Jun. 08, 1993
Summary：

【要約】【目的】吸水性高分子膜をATRプリズム上に密着させることにより、試料成分によるATRプリズム表面への汚染を防ぐ。【構成】ATRプリズム21上に高分子膜22を密着させ、高分子22上に試料23を導入する。【効果】上記構成により、試料のATRプリズムへの浸透を高分子膜がブロックし、かつスペクトルを測定することができ、試料によるATRプリズムの表面汚染を防ぐことができる。

Claim (excerpt)：

水を媒体とする液体を減衰全反射法によって分析する装置において、吸水性能を持つ高分子膜を表面に設けた減衰全反射プリズムを光学セルに持つことを特徴とする分光光度計。