光ファイバ温度・歪測定方法および装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：光石俊郎 , 田中康幸 , 松元洋
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006334058
Publication number (International publication number)：2008145315
Application date： Dec. 12, 2006
Publication date： Jun. 26, 2008
Summary：

【課題】簡単な構成で高効率に光ファイバの温度・歪を測定可能な光ファイバ温度・歪測定方法および装置を提供する。【解決手段】光ファイバ温度・歪測定装置を、測定光を出射する光源部2と、コア領域11の周囲に光軸方向に沿って形成された3つ以上の空孔13を有し、一端に測定光が入射される空孔付光ファイバ1と、空孔付光ファイバ1の他端側に設けられ、空孔付光ファイバ1内で発生して測定光と同方向に進行する前方ブリルアン散乱光を検出し、電気信号に変換する光/電気変換器4と、光/電気変換器4から出力される出力信号の周波数スペクトルを表示するスペクトラムアナライザ5とを備え、得られた出力信号を解析して媒質もしくは空間等の温度または歪を算出する構成とした。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被測定光ファイバの一端から測定光を入射し、前記被測定光ファイバ中に発生するブリルアン散乱光の周波数シフトまたは散乱光強度の変化を測定して前記被測定光ファイバの温度または歪の変化を検出する光ファイバ温度・歪測定方法において、前記被測定光ファイバはコア領域の周囲に光軸方向に沿って形成された3つ以上の空孔を有する空孔付光ファイバであり、前記空孔付光ファイバの一端に測定光を入射し、前記空孔付光ファイバ中に発生し、前記空孔付光ファイバ中を伝搬する前記測定光の進行方向と同方向に進行する前方ブリルアン散乱光の周波数シフトまたは散乱光強度を測定し、測定した前記周波数シフトまたは前記散乱光強度の変化を解析して前記被測定光ファイバの温度または歪を算出することを特徴とする光ファイバ温度・歪測定方法。

IPC (4)：

G01M 11/00 , G01M 11/02 , G01B 11/16 , G01D 5/353

FI (4)：

G01M11/00 U , G01M11/02 J , G01B11/16 Z , G01D5/26 D

F-Term (19)：

2F065AA65 , 2F065BB12 , 2F065CC23 , 2F065DD02 , 2F065FF41 , 2F065LL02 , 2F065LL22 , 2F065LL33 , 2F065LL67 , 2F065QQ25 , 2F065QQ44 , 2F103BA43 , 2F103CA07 , 2F103EC09 , 2F103FA02 , 2G086DD04 , 2G086DD05 , 2G086KK05 , 2G086KK07

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

特開平3-120437号公報
特許第3094917号公報

Cited by examiner (1)

分布型光ファイバセンサシステム
Gazette classification：再公表公報 Application number：JP2002011413 Applicant：岸田欣増

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

Show all

Return to Previous Page