Pat
J-GLOBAL ID：200903017967007167
簡易な汚れ防止および補正機能を有する光学装置および分析計
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003054675
Publication number (International publication number)：2004264146
Application date： Feb. 28, 2003
Publication date： Sep. 24, 2004
Summary：
【課題】汚れたサンプルガスを流したときにも光学面が汚れることを防止でき、汚れによる光量低下を抑えて、分析計の感度を長期間にわたって保つと共に、たとえ幾らかの汚れが生じたとしてもこれに影響されることのない安定した分析を行うことができる光学系および光を用いた分析計を提供する。【解決手段】サンプルガス流路11内のサンプルガスExに対して光L0 を照射すると共にこのサンプルガスExを通った光L1 ,L2 を検出する光学系23であって、サンプルガス流路11内にこの流路11を狭くすることでサンプルガスExの流れを速くし、このサンプルガスExの流れに伴った減圧部24を形成すると共に、内部に光学面14a〜14cを備えた筒状体13a〜13cを設け、この光学面14a〜14cとサンプルガス流路に臨む部分13dとの間の筒状体13a〜13c内を介して前記減圧部24に清浄ガスAを流入可能とする隙間20を設けてなる。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
サンプルガス流路内のサンプルガスに対して光を照射すると共にこのサンプルガスを通った光を検出する光学系であって、
サンプルガス流路内にこの流路を狭くすることでサンプルガスの流れを速くし、このサンプルガスの流れに伴った減圧部を形成すると共に内部に光学面を備えた筒状体を設け、
この光学面とサンプルガス流路に臨む部分との間の筒状体内を介して前記減圧部に清浄ガスを流入可能とする隙間を設けてなることを特徴とする光学系。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (20)：
2G057AA01
, 2G057AA02
, 2G057AB06
, 2G057AB08
, 2G057AC03
, 2G057DC07
, 2G057GA01
, 2G057JA03
, 2G057JA20
, 2G059AA01
, 2G059BB01
, 2G059CC19
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059GG02
, 2G059JJ02
, 2G059JJ30
, 2G059KK03
, 2G059MM14
