Pat
J-GLOBAL ID：200903017975873450
光ファイバを用いた変位計測システム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
原崎 正
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000104004
Publication number (International publication number)：2001289617
Application date： Apr. 05, 2000
Publication date： Oct. 19, 2001
Summary：
【要約】【課題】 光強度計測装置により変位発生を検知すると共に、光強度計測装置により変位発生の検知時には、特別に設ける光ファイバ歪分布計測装置により変位発生位置を特定する。【解決手段】 変位計測領域aに緊張状態で第1光ファイバ3と第2光ファイバ4を並行して配設し、光ファイバを利用した歪センサ11を第1光ファイバ3の途中にそれぞれ接続して設け、歪センサ11の光の透過光量の増減を計測する光強度計測装置21を設け、光強度計測装置21により変位発生の検知時には、第2光ファイバ4の特定位置の歪みを計測する光ファイバ歪分布計測装置41を特別に設け、光ファイバ歪分布計測装置41により変位発生位置を特定する。
Claim (excerpt)：
変位計測領域に複数の杭を取付け、全杭間に緊張状態で折れ線直線状に支持される第1光ファイバと第2光ファイバを並行して配設し、光ファイバの曲率半径が歪みにより変化して光の透過光量が増減することを利用して歪発生を検知する光ファイバを利用した歪センサを、各杭間の第1光ファイバの途中にそれぞれ接続して設け、第1光ファイバと第2光ファイバの終端同士を接続し、第1光ファイバの途中に接続された上記歪センサの光の透過光量の増減を計測する光強度計測装置を設けると共に、当該光強度計測装置に第1光ファイバと第2光ファイバの基端をそれぞれ接続し、光強度計測装置により変位発生の検知時には、第2光ファイバに光パルスを入射し戻ってくる後方ブリルアン散乱光の周波数が第2光ファイバの歪と関係して変化することを利用して後方ブリルアン散乱光が戻ってくる時間から第2光ファイバの特定位置の歪みを計測する光ファイバ歪分布計測装置を特別に設けると共に、当該光ファイバ歪分布計測装置に第2光ファイバの基端をその基端側に設けた光分岐接続器を介して接続して、光ファイバ歪分布計測装置により変位発生位置を特定するようにしたことを特徴とする光ファイバを用いた変位計測システム。
IPC (2)：
FI (2)：
G01B 11/16 Z
, G01D 21/00 D
2F065AA01
, 2F065AA65
, 2F065BB05
, 2F065CC00
, 2F065CC14
, 2F065FF31
, 2F065FF41
, 2F065FF46
, 2F065GG08
, 2F065HH15
, 2F065JJ01
, 2F065JJ05
, 2F065LL00
, 2F065LL02
, 2F065PP01
, 2F065SS09
, 2F076BB09
, 2F076BD01
, 2F076BD02
, 2F076BD06
, 2F076BD17
, 2F076BE17
