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J-GLOBAL ID：200903017985382072

故障診断装置

Inventor： 濱田 周治 ,  相京 隆
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993197324
Publication number (International publication number)：1995055887
Application date： Aug. 09, 1993
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：

【要約】【目的】 論理回路の縮退故障及び短縮故障を診断する故障診断装置に関し、比較的簡単な構成で、外部出力の観測により多重縮退及び短絡故障の診断が行なえる故障診断装置を提供することを目的とする。【構成】 VLSI等の被検査デバイス11にテスト入力ファイル部13よりテスト入力パターンを供給し、テスト入力パターンに応じて被検査デバイス11から得られるテスト出力パターンをテスト出力ファイル部14を介して得、故障診断部15によりテスト出力パターンと入力パターンに応じて得られるべき仮定故障パターンとを比較し、各仮定故障パターン毎の論理値の相違を検出してその相違数に応じて各仮定故障毎に評価値を算出し、算出した評価値より被検査デバイス11の故障の診断を行なう。

Claim (excerpt)：

被診断対象(1)に入力パターンを供給し、該入力パターンに応じて該被診断対象(1)より出力される出力パターンに基づいて故障を診断する故障診断装置において、前記被診断対象(1)に所定の入力パターンを供給する入力パターン供給手段(2)と、前記被診断対象(1)に予め仮定される故障に対して前記入力パターンに応じて前記被診断対象(1)から出力されるべき故障出力パターンを生成する仮定故障パターン生成手段(3)と、前記仮定故障パターン生成手段(3)で生成された故障出力パターンと前記被診断対象(1)の前記出力パターンとの各論理値の相違を検出し、該相違の数に応じて前記各仮定故障毎の評価値を算出する評価値算出手段(4)と前記評価値算出手段(4)で算出された評価値に応じて前記被診断対象(1)の故障を診断する故障診断手段(5)とを有することを特徴とする故障診断装置。

IPC (2)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 330