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J-GLOBAL ID：200903017997366374

物質表面下のガンマ線放出元素の深さを求める方法及び装置

Inventor： ジョン ジョージ サイドル ,  フランク ヘンリー ルディ ,  ジョセフ ルイス ゴンザレズ ,  トーマス ヴィンセント コンジェド
Applicant, Patent owner： ウエスチングハウス・エレクトリック・コーポレイション
Agent (1)： 加藤 紘一郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995056676
Publication number (International publication number)：1995294652
Application date： Feb. 20, 1995
Publication date： Nov. 10, 1995
Summary：

【要約】【目的】 土壌表面下のガンマ線放出元素の深さを決定する方法を提供する。【構成】 ガンマ線を表面上方の第1の高さh1 で検出し、ガンマ線を表面上方の第2の高さh2 で検出し、h1 で検出されたガンマ線の数に対するh2 で検出されたガンマ線の数の割合(或いはその逆の割合)を表す比Rを求め、比Rに基づいて表面下のガンマ線放出元素のおおよその深さを推定する。

Claim (excerpt)：

或る体積の物質の表面下のガンマ線放出元素の深さを求める方法において、ガンマ線を物質表面上方の第1の高さh1 で検出する段階(a)と、ガンマ線を物質表面上方の第2の高さh2 で検出する段階(b)と、h1 で検出されたガンマ線の数に対するh2 で検出されたガンマ線の数の割合、又は、h2 で検出されたガンマ線の数に対するh1 で検出されたガンマ線の数の割合を表す比Rを求める段階(c)と、比Rに基づいて表面下のガンマ線放出元素のおおよその深さを推定する段階(d)とを有することを特徴とする方法。

IPC (3)：

G01T 1/169 ,  G01B 15/00 ,  G01N 23/222

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭62-282288
  
• 特開昭62-115351
  
• 特開平2-222855