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J-GLOBAL ID:200903018116300976

超音波診断装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 吉田 研二 ,  石田 純
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005172030
Publication number (International publication number):2006345893
Application date: Jun. 13, 2005
Publication date: Dec. 28, 2006
Summary:
【課題】超音波画像内に対象組織の境界を正確に設定する。【解決手段】初期端点設定部によって初期端点A,Bが設定される(S201)。画像データ取得部は、A点とB点を結ぶ直線上の画素データを画像形成部内のメモリから読み込む(S202)。平滑化処理部は、読み込まれた直線上の輝度値(直線データ)に対して平滑化処理を施す(S203)。指標値算出部は、平滑化後の直線データに対して線形一次微分フィルタ処理を施す(S204)。重み付け処理部は、微分処理後の直線データに対して端点からの距離に応じた重み付け処理を施す(S205)。最終端点設定部は、A点およびB点の各々の近傍領域内において微分値が最大となる画素データを検出し、検出された画素データの位置に修正された端点として最終端点を設定する(S206)。距離計測部は、最終端点Cと最終端点Dとの間の距離を計測する(S207)。【選択図】図2
Claim (excerpt):
対象組織を含む空間内に超音波を送受波してエコーデータを取得する送受波手段と、 前記エコーデータに基づいて対象組織を含む超音波画像の画像データを形成する画像形成手段と、 対象組織の境界に対応した端点として前記画像データ内に初期端点を設定する初期端点設定手段と、 前記画像データ内の複数の画素データについて、各画素データごとにその近傍の画素データとの間における相違の度合いを示した指標値を算出する指標値算出手段と、 前記複数の画素データについての複数の指標値に対して、前記初期端点からの距離に応じた重み付け処理を施す重み付け処理手段と、 前記重み付け処理された複数の指標値に基づいて、前記初期端点の近傍領域内において指標値が最大となる画素データを検出し、検出された画素データの位置に修正された端点として最終端点を設定する最終端点設定手段と、 を有する、 ことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (2):
A61B 8/00 ,  G06T 1/00
FI (2):
A61B8/00 ,  G06T1/00 290D
F-Term (18):
4C601BB02 ,  4C601EE09 ,  4C601JB33 ,  4C601JB46 ,  4C601JC04 ,  4C601JC09 ,  4C601KK28 ,  4C601LL04 ,  5B057AA07 ,  5B057BA05 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CE05 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 超音波診断装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-182079   Applicant:株式会社日立メディコ
  • 超音波画像診断装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-337244   Applicant:オリンパス光学工業株式会社
Cited by examiner (7)
  • 超音波診断装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-024958   Applicant:松下電器産業株式会社
  • 超音波画像処理装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-283643   Applicant:アロカ株式会社
  • 超音波診断装置および壁厚計測方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-335650   Applicant:ジーイー横河メディカルシステム株式会社
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