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J-GLOBAL ID：200903018124208132

クロマトグラフィ法で分離したサンプルの各スライスにおける測定に関連する変数の標準偏差を決定する方法

Inventor： デイビッド・ダブリュ・ショート
Applicant, Patent owner： ワイアット テクノロジー コーポレイション
Agent (1)： 深見 久郎 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995010560
Publication number (International publication number)：1996035961
Application date： Jan. 26, 1995
Publication date： Feb. 06, 1996
Summary：

【要約】【目的】 クロマトグラフィ法で分離した分子について報告された分子量および半径の精度を予測することができる方法を提供することである。【構成】 クロマトグラムのベースライン3および4ならびにピーク領域5の両方を適切に分析することによって、分析に使用された様々なクロマトグラフィ検出器からの信号の標準偏差を決定することができる。このやり方で、分離された分子の分子量および根平均自乗半径の計算値の標準偏差ならびに分子の分布の計算されたモーメントに関する標準偏差を算出する。これらの標準偏差によって測定値の精度の予測を行なうことができる。

Claim (excerpt)：

クロマトグラフィ法で分離したサンプルの各スライスにおける測定に関連する変数の標準偏差を決定するための方法であって、a)前記測定された変数に対応する前記分離されたサンプルのクロマトグラフィピークから時間において切取ったベースライン領域を位置決めするステップと、b)前記位置決めされたベースライン領域内の前記変数の経時的関数依存度を仮定するステップと、c)前記位置決めされたベースライン領域内での前記仮定された経時的関数依存度に対しての前記変数の標準偏差を計算するステップと、d)前記分離されたサンプルの前記クロマトグラフィピーク内の各前記スライスでの前記変数の標準偏差を、前記位置決めされたベースライン領域内の前記計算された標準偏差に等しく設定するステップとを含む、標準偏差の決定方法。

IPC (2)：

G01N 30/86 ,  G01N 30/74