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J-GLOBAL ID：200903018244845004

質量分析計

Inventor： 高田 安章 ,  中山 佳苗 ,  坂入 実 ,  平林 集
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993039639
Publication number (International publication number)：1994249833
Application date： Mar. 01, 1993
Publication date： Sep. 09, 1994
Summary：

【要約】【構成】負荷16aのインピーダンスと負荷16aを流れる電流I2 による電位降下により、ステンレス管10を数キロボルトの電位に保持する。キャピラリ2の一端に電気泳動用電源14により高電圧を印加する。キャピラリ2中に導入された試料は電気泳動され、キャピラリ2の他端へと移動する。キャピラリ2の他端ではシースフローと混合され、噴霧細管10より、対向電極11方向へ静電噴霧される。【効果】 キャピラリ中に大きな電流が流れてもステンレス管の電位を制御でき、安定な静電噴霧が可能となりイオンを安定に観測できる。

Claim (excerpt)：

キャピラリにより分離され送出されてくる試料溶液を静電噴霧させイオンを生成する静電噴霧イオン源、前記静電噴霧イオン源で生成したイオンを真空部に導入するためのイオン導入細孔、及びこの導入されたイオンを質量分析するための質量分析部とを備えた質量分析計において、前記試料溶液を噴霧するための前記噴霧細管にインピーダンスを有する負荷を接続し、前記負荷を流れる電流による電位降下により前記噴霧細管に電位を与えることを特徴とする質量分析計。

IPC (4)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/447 ,  H01J 49/04 ,  G01N 30/72

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-315940
  
• 特開平1-315940
  
• 特開平4-033489