Pat

J-GLOBAL ID：200903018249589901

極微量イオン分析方法及び極微量イオン分析装置

Inventor： 福岡 孝司
Applicant, Patent owner： シャープ株式会社
Agent (1)： 青山 葆 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000364829
Publication number (International publication number)：2002168845
Application date： Nov. 30, 2000
Publication date： Jun. 14, 2002
Summary：

【要約】【課題】 超純水中の数ppt程度のイオンを高感度で分析できる極微量イオン分析方法を提供する。【解決手段】 分析対象サンプルを濃縮カラムに流して、同一の分析対象サンプルに含まれた不純物イオンを濃縮カラムで高レベルと低レベルとの二つのレベルに濃縮する(S1,S3)。濃縮カラムに溶離液を流して各レベルの不純物イオンを抽出し、これらの抽出された不純物イオンを検出器によってそれぞれ検出してクロマトグラムを得る(S2,S4)。得られたクロマトグラムの差を算出する差クロマト処理を行う(S5)。

Claim (excerpt)：

分析対象サンプルを濃縮カラムに流して、同一の分析対象サンプルに含まれた不純物イオンを濃縮カラムで高レベルと低レベルとの二つのレベルに濃縮し、上記濃縮カラムに溶離液を流して各レベルの不純物イオンを抽出し、これらの抽出された不純物イオンを検出器によってそれぞれ検出して、得られたクロマトグラムの差を算出する差クロマト処理を行うことを特徴とする極微量イオン分析方法。

IPC (5)：

G01N 30/88 ,  B01D 15/08 ,  G01N 30/08 ,  G01N 30/46 ,  G01N 30/86

FI (5)：

G01N 30/88 H ,  B01D 15/08 ,  G01N 30/08 L ,  G01N 30/46 A ,  G01N 30/86 J

F-Term (5)：

4D017AA01 ,  4D017BA11 ,  4D017DA03 ,  4D017EB01 ,  4D017EB03