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J-GLOBAL ID:200903018250639416

X線検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 伊東 忠彦 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992065301
Publication number (International publication number):1993091993
Application date: Mar. 23, 1992
Publication date: Apr. 16, 1993
Summary:
【要約】【目的】 本発明は簡単に、効果的に動作されえ、コンソール装置の位置が異なる検査環境に対して最適化されうるX線検査装置を提供することを目的とする。【構成】 X線検査装置であって、コンソール装置は2つの独立の変位自在の制御コンソールで構成され、1つの制御コンソールは望ましくは画像を調整する制御からなり、一方他の制御コンソールはスタンドとテーブルの変位用制御からなる。スタンドとテーブル変位用制御コンソールはスタンド制御と、制御コンソールのスタンドに対する位置に従がい所定のスタンド動作に関してスタンド制御の動き方向を変える手段からなる。
Claim (excerpt):
互いに面するよう配置されたX線源(7)及びX線検出器(9,11)を有するスタンド(1)と、X線源(7)により放射さるべきX線ビームを制限するようX線源(7)近くに位置する吸収手段と、X線源(7)とX線検出器(9,11)間に対象を位置決めするテーブル(13)と、制限信号をスタンド(1)とテーブル(13)に印加する中央制御ユニット(33)と、中央制御ユニット(33)に接続され、中央制御ユニット(33)を制御する制御からなるコンソール装置(35,39)とからなるX線検査装置であって、コンソール装置(35,39)は互いに異なる制御機能を有する2つの独立した変位自在の制御コンソール(41,43)からなり、少なくとも1つの制御コンソールは制御信号を異なる制御コンソール位置に適合させる位置決め調整手段からなることを特徴とするX線検査装置。
IPC (2):
A61B 6/00 320 ,  H05G 1/64
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭51-087720

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