Pat
J-GLOBAL ID：200903018270103024
細線材等のクリープ試験装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
来住 洋三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991254230
Publication number (International publication number)：1993066184
Application date： Sep. 06, 1991
Publication date： Mar. 19, 1993
Summary：
【要約】【目的】伸びの小さい線材等の線状テストピースの光学的クリープ試験装置において、温度調節の乱れ、該テストピースの表面酸化腐食による外乱に起因する測定誤差をなくして、試験結果の精度、信頼度を向上させる。【構成】線状テストピースの光学的クリープ試験装置におけるテストピースの伸び計測対象部分を略密閉加熱炉内に配置し、前記加熱炉の壁の光の通過窓に窓硝子を設け、上記加熱炉内を不活性ガスで満たし、温度制御装置によって加熱炉内ガスの温度を一定に制御して線状テストピースのクリープを計測する試験装置。
Claim (excerpt)：
固定された一定長さの遮光性の標準ゲージに沿って平行にテストピースを配置し、標準ゲージの両端よりも外側において、テストピースに2つの遮光性指標を固定し、標準ゲージの両端とテストピースに固定した両遮光性指標との間の間隙に向けて、平行光線又は光スポットをスウィープさせて平行光線束を形成する様に発射する2つの送光部をテストピースの一方の側に設け、上記送光部の反対側に上記平行光線又はスウィープ発射された光線束を受光する受光部をそれぞれ設け、上記標準ゲージ、テストピースの2つの遮光性指標の間部分、すなわち、テストピースの伸び計測対象部分を略密閉加熱炉内に配置し、上記加熱炉の壁の光の通過窓に窓硝子を設け、少なくとも送光部側の窓硝子の内側を、標準ゲージの先端に接近させ、上記加熱炉内を不活性ガスで満たし、温度制御装置によって加熱炉内ガスの温度を一定に制御した、細線材等のクリープ試験装置。
IPC (2)：
Return to Previous Page
