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J-GLOBAL ID:200903018299620087
粒子状態検出用プローブ
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
長門 侃二
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001059873
Publication number (International publication number):2002257715
Application date: Mar. 05, 2001
Publication date: Sep. 11, 2002
Summary:
【要約】【課題】 処理水中に発生する気泡を排除して上記処理水中に含まれる粒子の状態を高精度に計測するすることのできる簡易な構成の粒子状態検出用プローブを提供する。【解決手段】 レーザ光を導いてその端面から処理水中に射出する第1の光ファイバ(投光部)1と、この投光部の近傍に設けられて前記レーザ光の上記処理水中の粒子への衝突により発生する散乱光をその端面から導入して光電変換部に導く第2の光ファイバ(受光部)2と、前記投光部(投光用の光ファイバ)と受光部(受光用の光ファイバ)とをそれぞれ支持して前記処理水中における粒子状態の計測領域Sを規定する台座(支持部材)3と、光ファイバの端面や支持部材の先端部に付着する気泡を除去するヒータ4等の気泡除去手段とを備える。
Claim (excerpt):
処理水中にレーザ光を照射し、このレーザ光の上記処理水中の粒子への衝突により発生する散乱光を検出する粒子状態検出用プローブであって、前記処理水中にレーザ光を照射する投光部と、この投光部の近傍に設けられて前記散乱光を受光する受光部と、前記投光部による前記レーザ光の照射領域と前記受光部による前記散乱光の受光領域とが交差する状態に前記投光部と受光部とをそれぞれ支持して前記処理水中における粒子状態の計測領域を規定する支持部材と、前記投光部のレーザ光出射面、前記受光部の散乱光受光面、および前記支持部材の前記計測領域の近傍に付着する気泡を除去する気泡除去手段とを具備したことを特徴とする粒子状態検出用プローブ。
IPC (5):
G01N 21/15
, B01D 21/30
, G01N 15/00
, G01N 21/49
, C02F 1/00 ZAB
FI (5):
G01N 21/15
, B01D 21/30 A
, G01N 15/00 A
, G01N 21/49 Z
, C02F 1/00 ZAB V
F-Term (21):
2G057AA02
, 2G057AB01
, 2G057AB04
, 2G057AB07
, 2G057AC01
, 2G057AD07
, 2G057AD17
, 2G057EA01
, 2G059AA05
, 2G059BB06
, 2G059BB09
, 2G059CC19
, 2G059DD02
, 2G059DD16
, 2G059EE02
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
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