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J-GLOBAL ID:200903018328164282

光半導体装置の製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 細田 芳徳
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003406400
Publication number (International publication number):2005167092
Application date: Dec. 04, 2003
Publication date: Jun. 23, 2005
Summary:
【課題】光半導体素子の樹脂封止を簡便に、かつ均一に行うことができる光半導体素子の製造方法を提供すること。【解決手段】光半導体装置の製造方法であって、(1) 導体上に搭載した光半導体素子上に樹脂層を形成する工程、及び(2) 工程(1)で形成した樹脂層を加圧成型する工程を有する、光半導体装置の製造方法。【選択図】なし
Claim (excerpt):
光半導体装置の製造方法であって、 (1) 導体上に搭載した光半導体素子上に樹脂層を形成する工程、及び (2) 工程(1)で形成した樹脂層を加圧成型する工程 を有する、光半導体装置の製造方法。
IPC (5):
H01L33/00 ,  H01L21/56 ,  H01L23/28 ,  H01L23/29 ,  H01L23/31
FI (5):
H01L33/00 N ,  H01L21/56 E ,  H01L21/56 J ,  H01L23/28 D ,  H01L23/30 F
F-Term (21):
4M109AA01 ,  4M109AA02 ,  4M109BA01 ,  4M109CA10 ,  4M109CA22 ,  4M109EC11 ,  4M109EE12 ,  4M109GA01 ,  5F041DA13 ,  5F041DA19 ,  5F041DA46 ,  5F041DA58 ,  5F041DA59 ,  5F061AA01 ,  5F061AA02 ,  5F061BA01 ,  5F061CA10 ,  5F061CA22 ,  5F061CB02 ,  5F061CB13 ,  5F061FA01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (7)
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