Pat
J-GLOBAL ID:200903018346808715
DNAマイクロアレイデータの補正方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001212910
Publication number (International publication number):2003028862
Application date: Jul. 12, 2001
Publication date: Jan. 29, 2003
Summary:
【要約】【課題】 DNAマイクロアレイデータの補正方法の提供。【解決手段】 2種類のサンプル間の遺伝子発現レベルの異同を、DNAマイクロアレイを用いて、各遺伝子毎に調べる場合の、測定データの補正方法であって、以下の工程: (A) DNAマイクロアレイから得られる2種類のサンプルの測定データを、各遺伝子毎に平均することによって、2種類のサンプル間での各遺伝子毎の平均発現量を求める工程、 (B) DNAマイクロアレイから得られる2種類のサンプルの測定データから、各遺伝子毎の差をとることによって、2種類のサンプル間での各遺伝子毎の発現量の差を求める工程、 (C) 工程(A)において得られる平均発現量と工程(B)において得られる発現量の差を確率変数とする同時分布を求める工程、及び (D) 工程(C)おいて得られる同時分布を事前に判明している分布あるいは統計学的に期待される分布へ変換を行う工程、を包含することを特徴とする前記DNAマイクロアレイデータの補正方法。
Claim (excerpt):
2種類のサンプル間の遺伝子発現レベルの異同を、DNAマイクロアレイを用いて、各遺伝子毎に調べる場合の、測定データの補正方法であって、以下の工程:(A) DNAマイクロアレイから得られる2種類のサンプルの測定データを、各遺伝子毎に平均することによって、2種類のサンプル間での各遺伝子の平均発現量を求める工程、(B) DNAマイクロアレイから得られる2種類のサンプルの測定データから、各遺伝子毎に測定データの差をとることによって、2種類のサンプル間の各遺伝子の発現量の差を求める工程、(C) 工程(A)において得られる平均発現量と工程(B)において得られる発現量の差を確率変数とする同時分布を求める工程、及び(D) 工程(C)おいて得られる同時分布を事前に判明している分布あるいは統計学的に期待される分布へ変換を行う工程、を包含することを特徴とする前記DNAマイクロアレイデータの補正方法。
IPC (6):
G01N 33/53
, C12M 1/00
, C12M 1/34
, C12N 15/09
, C12Q 1/68
, G01N 37/00 102
FI (6):
G01N 33/53 M
, C12M 1/00 A
, C12M 1/34 Z
, C12Q 1/68 A
, G01N 37/00 102
, C12N 15/00 F
F-Term (27):
4B024AA11
, 4B024CA01
, 4B024HA12
, 4B024HA19
, 4B029AA07
, 4B029AA21
, 4B029AA23
, 4B029BB20
, 4B029CC03
, 4B029FA10
, 4B029FA15
, 4B063QA01
, 4B063QA12
, 4B063QA17
, 4B063QA18
, 4B063QQ03
, 4B063QQ13
, 4B063QQ42
, 4B063QR32
, 4B063QR38
, 4B063QR56
, 4B063QR80
, 4B063QR82
, 4B063QS25
, 4B063QS34
, 4B063QS39
, 4B063QX02
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