Pat
J-GLOBAL ID:200903018395193475
光学歪の測定方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
泉名 謙治
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995055786
Publication number (International publication number):1996247954
Application date: Mar. 15, 1995
Publication date: Sep. 27, 1996
Summary:
【要約】【目的】人間の官能量と一致した動的な歪の測定を可能とする。【構成】拡散光部1aと遮光部1bからなる面光源1からの光を、被測定物2を透過または反射させて撮像素子3で撮像する光学歪の測定方法において、光源および撮像素子に対する被測定物の位置を相対的に変化させ、被測定部が拡散光部と遮光部の境界エッジ20を通過する前の画像と後の画像とを用いて光学歪を測定する。
Claim (excerpt):
遮光部と拡散光部とからなる面光源からの光を、被測定物を透過させあるいは被測定物により反射させて撮像素子で撮像する光学歪の測定方法において、光源および撮像素子に対する被測定物の位置を相対的に変化させながら被測定部が拡散光部と遮光部の境界のエッジ部を通過する前の画像と後の画像とを用いて歪を測定することを特徴とする光学歪の測定方法。
Return to Previous Page