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J-GLOBAL ID:200903018475233907

電子線測長方法及び電子線測長装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高田 守
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993211301
Publication number (International publication number):1995063542
Application date: Aug. 26, 1993
Publication date: Mar. 10, 1995
Summary:
【要約】【目的】 試料上のパターンを電子線測長装置で測長する際に付着するコンタミネーションによる測長寸法誤差を排除し、真の寸法を知る。【構成】 電子線測長において、測長すべき箇所を指定回数測定し、測定結果L1 ...Ln を測定毎に記憶手段25で記憶し、測定終了後、演算手段26において真の寸法をL0 、比例定数をaとしたとき、前記測定結果L1 ...Ln がLm =a・n+L0 で表わされるとし、前記測定結果、L1 ...Ln から真の寸法L0 を算出する。
Claim (excerpt):
電子線を集束して試料上で走査し、上記試料のパターン寸法を測長する方法において、同一箇所を複数個測定し、得られた測定値L1 ...Lnは、真の寸法L0 、比例定数をaとして、Lm =a・m+L0 で表わすことで、前記測定値L1 ...Ln から真の寸法L0 を決定することを特徴とする電子線測長方法。

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