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J-GLOBAL ID:200903018499020670
光断層画像化装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
柳田 征史
, 佐久間 剛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005289124
Publication number (International publication number):2007101268
Application date: Sep. 30, 2005
Publication date: Apr. 19, 2007
Summary:
【課題】光コヒーレンストモグラフィー計測において、測定開始位置の調整を短時間かつ簡便に行う。【解決手段】たとえば体腔内の断層画像をプローブ30を用いた光コヒーレンストモグラフィー計測により取得するときに、距離測定手段34を用いてプローブ30から測定対象までの距離を測定する。そして、距離測定手段34により測定された測定対象までの距離に基づいて、光路長調整手段20が測定光L1もしくは参照光L2の光路長を調整する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
測定対象の断層画像を取得する光断層画像化装置において、
光を射出する光源ユニットと、
IPC (3):
G01N 21/17
, A61B 10/00
, A61B 1/00
FI (4):
G01N21/17 630
, G01N21/17 625
, A61B10/00 E
, A61B1/00 300D
F-Term (24):
2G059AA03
, 2G059AA05
, 2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE12
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059GG03
, 2G059GG09
, 2G059GG10
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ22
, 2G059LL01
, 2G059MM01
, 2G059MM09
, 2G059PP04
, 4C061AA24
, 4C061BB08
, 4C061GG11
, 4C061HH52
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
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光イメージング装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-374702
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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米国特許第6552796号明細書
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