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J-GLOBAL ID：200903018517054854

散乱式粒度分布測定装置

Inventor： 伊串 達夫
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996021933
Publication number (International publication number)：1997189654
Application date： Jan. 11, 1996
Publication date： Jul. 22, 1997
Summary：

【要約】【課題】 複数個の光検出器や装置を用いることなく、複数の異なる光強度の角度分布データを同時に得ることができる散乱式粒度分布測定装置を提供すること。【解決手段】 一つの検出平面に、透過光測定用検出部21を中心として、互いに異なる半径方向に、複数の散乱光受光素子22a,22b,22c,23a,23b,23cよりなる散乱光検出用測定部22,23を複数個設けている。

Claim (excerpt)：

試料に対して光を照射し、そのときの散乱光を光検出器で検出し、これによって得られる散乱光強度パターンに基づいて試料における粒度分布を測定する散乱式粒度分布測定装置において、前記光検出器として、一つの検出平面に、光軸を中心にして一つの半径方向に、複数の円弧状の散乱光受光素子を配列した散乱光検出用測定部を配置するとともに、前記半径方向とは異なる半径方向に、前記散乱光検出用測定部とは半径方向の幅寸法が異なる複数の円弧状の散乱光受光素子を配列した別の散乱光検出用測定部を配置したものを用いることを特徴とする散乱式粒度分布測定装置。

IPC (2)：

G01N 15/02 ,  G01N 21/47

FI (2)：

G01N 15/02 A ,  G01N 21/47 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭63-215942
  
• 特表平3-505130
  
• 特表平3-505131
  
• 特開平1-174937