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J-GLOBAL ID：200903018583806743
ひずみ測定方法及びひずみ測定装置並びにひずみ測定用記録媒体
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
佐藤 辰彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998295890
Publication number (International publication number)：1999230709
Application date： Oct. 16, 1998
Publication date： Aug. 27, 1999
Summary：
【要約】【課題】物体に貼着するひずみゲージを一辺に備えたブリッジ回路の初期不平衡出力電圧の影響を適正に排除して、該ブリッジ回路の出力電圧から精度よく物体のひずみを測定することができるひずみ測定方法を提供する。【解決手段】ひずみゲージ1をリード線2,3を介して一辺に組み込んだブリッジ回路7において、ひずみゲージ1のひずみを生じていない状態におけるブリッジ回路7の出力電圧eを初期不平衡出力電圧e0 として検出しておき、この電圧e0 と、ひずみ測定時のブリッジ回路7の出力電圧eとを用いて次式(1)により初期不平衡出力電圧e0 の影響を排除したひずみεa を求める。【数1】
Claim (excerpt)：
物体に生じるひずみに応じた抵抗値変化が生じるように該物体に貼着されるひずみゲージを一辺に具備し、且つ残りの三辺にそれぞれ前記物体のひずみと無関係な所定抵抗値の抵抗体を具備してなるブリッジ回路を用い、該ブリッジ回路の所定の一対の対角点を一対の電源入力部、該ブリッジ回路の残りの一対の対角点を一対の出力部として、前記ブリッジ回路の一対の電源入力部に電源電圧を付与した状態で、前記一対の出力部間に生じる出力電圧を検出し、その検出した出力電圧から前記物体のひずみを測定するひずみ測定方法において、あらかじめ前記ひずみゲージのひずみを生じていない状態における前記ブリッジ回路の出力電圧を該ブリッジ回路の初期不平衡出力電圧e0 として検出する工程を備え、前記物体のひずみの測定時に検出された前記ブリッジ回路の出力電圧eと、前記初期不平衡出力電圧e0 とを用いた次式(1)の演算により求められる値εa に基づき前記物体のひずみを測定することを特徴とするひずみ測定方法。【数1】但し、上記式(1)において、V:前記ブリッジ回路の電源電圧、K:前記ひずみゲージのゲージ率、R3 :前記ブリッジ回路の各辺のうち、前記ひずみゲージを具備する辺の対辺に存する抵抗体の抵抗値、R4 :前記ブリッジ回路の各辺のうち、前記ひずみゲージを具備する辺に前記一対の電源入力部の一方を介して隣接する辺に存する抵抗体の抵抗値。
IPC (2)：
FI (2)：
G01B 7/18 B
, G01L 1/22 A
