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J-GLOBAL ID：200903018619979313

懸濁粒子分析方法および装置

Inventor： 福井 俊文
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西田 新
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993272780
Publication number (International publication number)：1995128215
Application date： Oct. 29, 1993
Publication date： May. 19, 1995
Summary：

【要約】【目的】 媒液中に液体または固体粒子が存在する系における粒子の凝集分散状態を従来より詳細に分析・評価できる方法と、その実施に適した装置とを提供する。【構成】 遠心沈降式粒度分布測定装置に装着される試料セル4内に一対の電極21、21を設け、沈降または浮上時にその電極間電位差を測定することで、粒度分布とゼータ電位とを同時に測定し、その両測定結果を使って粒子の凝集分散状態を分析・評価する。

Claim (excerpt)：

媒液中に液体または固体粒子が存在する系における粒子の凝集分散状態を分析する方法であって、上記固体粒子の粒度分布と粒径に応じたゼータ電位とを測定し、その測定された粒度分布とゼータ電位とから粒子の凝集度合を分析することを特徴とする懸濁粒子分析方法。

IPC (3)：

G01N 15/04 ,  G01N 15/02 ,  G01N 27/26