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J-GLOBAL ID：200903018681160592

検査用照明装置

Inventor：
米田 賢治

About 米田 賢治


Applicant, Patent owner：
シーシーエス株式会社

About シーシーエス株式会社


Agent (1)： 柳野 隆生
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002040485
Publication number (International publication number)：2003240721
Application date： Feb. 18, 2002
Publication date： Aug. 27, 2003
Summary：
【要約】【課題】 発光体の個数を増大させることなく、光量の増大化を図ることができる検査用照明装置を提供する点にある。【解決手段】 検査対象物5に照射するための発光体2の複数を配置し、各発光体2から照射される光を平行光にするための第1レンズ3を発光体2の照射面側に配置し、第1レンズ3からの平行光を集光させて検査対象物5のほぼ同一箇所に集中させるための第2レンズ6を第1レンズ3の前方に配置している。
Claim (excerpt)：
検査対象物に照射するための発光体の複数を配置し、前記発光体から照射される光又は前記発光体から照射される光を光ファイバー等の光案内部材を介して案内された光を、平行光にするための第1レンズを該発光体の照射面側又は該光案内部材の光射出面側に配置し、前記第1レンズからの平行光を集光させて検査対象物のほぼ同一箇所に集中させるための第2レンズを該第1レンズの前方に配置してなる検査用照明装置。
IPC (5)：
G01N 21/84 ,  F21S 8/04 ,  F21V 29/00 ,  F21W131:40 ,  F21Y101:02
FI (5)：
G01N 21/84 E ,  F21V 29/00 A ,  F21W131:40 ,  F21Y101:02 ,  F21S 1/02 G
F-Term (8)：
2G051AA51 ,  2G051BA01 ,  2G051BB17 ,  2G051CA11 ,  2G051CB01 ,  3K014AA01 ,  3K014LA01 ,  3K014LB04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
  • 微細領域の照明装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-155331   Applicant：株式会社シム
  • 照明装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-184719   Applicant：シーシーエス株式会社
  • 特開昭59-201577
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)
  • 光部品・製品活用事典, 19860915, 初版第2刷, 157-158

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