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J-GLOBAL ID：200903018713408842
距離測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
山川 政樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995168662
Publication number (International publication number)：1997021873
Application date： Jul. 04, 1995
Publication date： Jan. 21, 1997
Summary：
【要約】【課題】 測定スピードを落とすことなく、また距離精度を低下させることなく、発光周期を長くして発光素子の寿命を延ばす。【解決手段】 8ns周期のクロックパルスf1の位相を4nsずらしてクロックパルスf2とする。放射ビーム光が発生する毎に、その放射ビーム光の発射タイミングと反射ビーム光BM の受光タイミングとの時間差内に発生するクロックパルスf1およびf2の数をカウンタ12-3Aおよび12-3Bでカウントする。カウンタ12-3Aでのカウント値とカウンタ12-3Bでのカウント値とを加算し、この加算値のN回の平均をとって平均加算値を求め、この求めた平均加算値から中央ゾーンに位置する対象物までの距離を測定する。反射ビーム光BS1,BS2についても同様に右,左ゾーンに位置する対象物までの距離を測定する。
Claim (excerpt)：
発光素子より送光レンズを介しパルス光を出射し、反射して戻ってくるパルス光を受光レンズを介し受光素子にて受光し、前記発光素子からの出射パルス光の発射タイミングと前記受光素子での受光パルス光の受光タイミングとの時間差に基づいて対象物までの距離を測定する距離測定装置において、前記出射パルス光を周期的に発生させる出射パルス光発生手段と、クロックパルスを周期的に発生するクロックパルス発生手段と、前記出射パルス光が発生する毎に、その出射パルス光の発射タイミングと受光パルス光の受光タイミングとの時間差を、前記クロックパルス発生手段の発生するクロックパルスに基づき、このクロックパルスの発生周期で定まる分解能よりも高い分解能で計測する時間差計測手段と、この時間差計測手段によって計測された時間差のN回の平均をとって平均時間差を求め、この求めた平均時間差から対象物までの距離を測定する距離測定手段とを備えたことを特徴とする距離測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01S 17/10
, G01S 17/88 A
