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J-GLOBAL ID：200903018718675571
情報処理装置及びメモリ診断方法及びメモリ診断装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995020799
Publication number (International publication number)：1996212145
Application date： Feb. 08, 1995
Publication date： Aug. 20, 1996
Summary：
【要約】【目的】 読み書き可能なメモリの故障を診断する情報処理装置及びメモリ診断方法及びメモリ診断装置に関し、高速にメモリの診断が行なえる情報処理装置及びメモリ診断方法及びメモリ診断装置を提供することを目的とする。【構成】 メモリ12に対してアクセスすると共にメモリ12の故障を認識するプロセッサ11と、プロセッサ11によりメモリ12全域に書込まれるテストデータを予め保持しておくレジスタ15と、プロセッサ11によりメモリ12から読み出されたテストデータとレジスタ15に予め保持されたテストデータとの一致を比較するコンパレータ16と、コンパレータ16での比較結果をラッチし、プロセッサ11に供給するラッチ回路17とより構成してなる。
Claim (excerpt)：
搭載されたメモリの故障を診断する機能を有する情報処理装置において、前記メモリ内全域に同じテストデータを記憶させると共に前記メモリからテストデータを読み出すメモリアクセス手段と、前記メモリに記憶させるテストデータを保持するテストデータ保持手段と、前記メモリから読み出されたテストデータと前記テストデータ保持手段に保持されたテストデータとを比較し、不一致のときに前記メモリの故障を示す故障判定信号を生成する比較手段とを有することを特徴とする情報処理装置。
IPC (2)：
G06F 12/16 330
, G11C 29/00 303
