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J-GLOBAL ID：200903018774819934

ガスクロマトグラフ質量分析法におけるデータ処理方法

Inventor： 今坂 智子 ,  今坂 藤太郎
Applicant, Patent owner： 今坂 藤太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007249270
Publication number (International publication number)：2009080001
Application date： Sep. 26, 2007
Publication date： Apr. 16, 2009
Summary：

【課題】環境中に存在する微量のダイオキシン化合物を、飛行時間型質量分析計を用いてレーザーイオン化法により測定する方法が提案されている。しかし、この方法は従来の二重収束型質量分析計と比較して質量分解能が低いので雑音を低減できず、十分な検出感度が得られないことが多い。【解決手段】質量スペクトル分析法において、測定された信号から理想的な同位体ピークの強度分布の成分を抽出することによって、信号中の雑音を低減して検出感度を向上させることができる。また、質量スペクトルの類似性を定量的に評価することによって、分析結果の信頼性を評価することができる。【選択図】図8

Claim (excerpt)：

クロマトグラフ質量分析法において、xを質量スペクトルにおける質量数、yをクロマトグラムにおける保持時間、g(x,y)を質量スペクトルにおける同位体ピークの理論強度分布、f(x,y) を質量スペクトルにおける同位体ピークの実測強度分布をとするとき、 P(y) = ∫f(x,y)×g(x,y)dx/∫g(x,y)dx 式により求めた信号強度P(y)によりクロマトグラムを表示することを特徴とするデータ処理方法。

IPC (4)：

G01N 27/62 ,  G01N 30/88 ,  G01N 30/86 ,  G01N 30/72

FI (6)：

G01N27/62 Y ,  G01N27/62 V ,  G01N27/62 C ,  G01N30/88 X ,  G01N30/86 D ,  G01N30/72 A

F-Term (8)：

2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041EA06 ,  2G041FA08 ,  2G041FA21 ,  2G041GA06 ,  2G041LA20 ,  2G041MA05