Pat

J-GLOBAL ID：200903018841041900

流体試料の測定装置

Inventor： 秋友 信雄 ,  松浦 俊一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993100708
Publication number (International publication number)：1994308024
Application date： Apr. 27, 1993
Publication date： Nov. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】本発明の目的は高感度・高安定な液体クロマトグラフ用フローセル検知器システムを提供する。【構成】試料流通孔10の近傍に参照孔11を持つフローセル部において、試料流通孔10と参照孔11の孔内壁面を光学研磨し、かつその穴断面径を等しくする。試料流通孔10と参照孔11の後には各々の光検出用のための試料光検知器7および参照光検知器8が設置されている。この参照光検知器系回路の応答速度は試料光検知器系の応答速度より遅くなっている。【効果】本発明によれば、検出する光のロスなく長時間安定な電気的ノイズの低減された液体クロマトグラフ用フローセル検知器システムを得る。

Claim (excerpt)：

試料流通孔と参照孔を形成したフローセル部を有し、上記試料流通孔に流体試料を流通せしめてこの試料を光学的に測定する流体試料の測定装置において、上記試料流通孔および上記参照孔の両方が同じ孔断面積を有する柱状であるように形成し、上記試料流通孔および上記参照孔の内表面を鏡面状態にし、上記試料流通孔の透過光検出信号と上記参照孔の透過光検出信号を比較する手段を設けたことを特徴とする流体試料の測定装置。

IPC (3)：

G01N 21/59 ,  G01N 21/05 ,  G01N 30/74