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J-GLOBAL ID：200903018868637643

組織切片厚みを測定する方法および装置

Inventor： ジェームズ・ダブリュー・バッカス ,  ジェームズ・ヴィー・バッカス
Applicant, Patent owner： ベクトン・ディッキンソン・アンド・カンパニー
Agent (1)： 湯浅 恭三 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993260107
Publication number (International publication number)：1994229723
Application date： Oct. 18, 1993
Publication date： Aug. 19, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 癌の診断および治療用に検体細胞試料の細胞対象の分析またはミクロトーム設定時の名目厚みの何等かの変動を監視する場合の継続使用のために、好ましくは、倍数体核DNA含量を用いて組織切片の厚みを自動像分析システムで測定する装置および方法の提供。【構成】 既知の細胞対象属性を有するラット肝臓組織切片などの測定材料の像を最初にディジタル化し、細胞対象の面積およびDNA質量を含む形態学的属性をディジタル化された像から自動的に測定する。測定された属性を、予め確定されている属性値の範囲と比較して、特定の細胞対象を選択する。細胞対象の選択後、作業者は、自動的に選択された細胞対象を再検討し且つ測定された細胞対象属性値を受け入れるかまたは変更することができる。

Claim (excerpt)：

組織切片の厚みを分析装置で測定する方法であって、多数の細胞対象を含む組織切片を提供し;該細胞対象の多数の属性を該分析装置によって自動的に測定し且ついくつかの細胞対象を選択し;そして該選択された細胞対象から組織切片の厚みを決定する工程を含む上記の方法。

IPC (5)：

G01B 11/06 ,  C12M 1/00 ,  A61B 10/00 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 1/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-092646
  
• 特開昭51-042557
  
• 特開平2-036355
  
• 特開昭61-120953