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J-GLOBAL ID：200903018873512417

光波測距装置

Inventor： 吉田 久
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 土井 健二 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997030080
Publication number (International publication number)：1998227857
Application date： Feb. 14, 1997
Publication date： Aug. 25, 1998
Summary：

【要約】【課題】パルス光の送光に伴う迷光による反射パルス光が検出されて、測定誤差が発生するのを防止する。【解決手段】パルス光を測距光路に送光する送光手段3と、反射してくるパルス光を受光する受光手段4と、送光時から受光時までの時間を計測する信号処理部1,2,6とを有し、信号処理部は、前記パルス光の送光に応答して1個の反射パルス光が検出される第一の状態か、前記パルス光の送光に応答して2個の反射パルス光が検出される第二の状態かを判定する。そして、信号処理部は、第一の状態の時は送光時から1個目の反射パルス光を受光するまでの時間を計測し、第二の状態の時は送光時から2個目の反射パルス光を受光するまでの時間を計測する。

Claim (excerpt)：

パルス光を送光する送光手段と、反射パルス光を受光する受光手段と、前記送光時から受光時までの時間を計測する信号処理部とを有し、該信号処理部は、前記パルス光の送光に応答して、迷光による反射パルス光を伴わずに被測定物からの反射パルス光が検出される第一の状態か、迷光による反射パルス光を伴って該被測定物からの反射パルス光が検出される第二の状態かを判定し、前記第一の状態の時は送光時から当該被測定物からの反射パルス光を受光するまでの時間を計測し、前記第二の状態の時は迷光による反射パルス光を無視して送光時から当該被測定物からの反射パルス光を受光するまでの時間を計測することを特徴とする光波測距装置。

IPC (2)：

G01S 17/10 ,  G01B 11/00

FI (2)：

G01S 17/10 ,  G01B 11/00 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 距離測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-159216   Applicant：日本電装株式会社
• 特開昭60-201276
  
• レーザ測遠機
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-202075   Applicant：日本電気株式会社