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J-GLOBAL ID：200903018904935141

分光分析装置用のデータ処理装置

Inventor： 石見 憲一 ,  河端 真一
Applicant, Patent owner： 株式会社クボタ
Agent (1)： 北村 修一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001296964
Publication number (International publication number)：2003098077
Application date： Sep. 27, 2001
Publication date： Apr. 03, 2003
Summary：

【要約】【課題】 検量式の作成を能率よく行うことができるとともに、検量式についての信頼性が低下する不利を回避することが可能となる分光分析装置用のデータ処理装置を提供する。【解決手段】 分光分析装置により計測された複数の被計測物についての分光スペクトルデータ夫々を2次微分して2次微分スペクトルデータを求める第1演算処理手段200と、2次微分スペクトルデータの夫々に対して、更に1次微分して再微分スペクトルデータを求める第2演算処理手段201と、再微分スペクトルデータ同士を比較することによって異質なデータを抽出する抽出処理手段202と、複数の被計測物についての分光スペクトルデータ群の中から異質なデータを除去した残りの分光スペクトルデータ群を検量式作成用のデータとして特定するデータ特定手段203とを備えて構成される。

Claim (excerpt)：

分光分析装置により計測された複数の被計測物夫々についての分光スペクトルデータのうちから、検量式作成に用いる分光スペクトルデータを求める分光分析装置用のデータ処理装置であって、前記複数の被計測物についての分光スペクトルデータ夫々を2次微分して2次微分スペクトルデータを求める第1演算処理手段と、この第1演算処理手段にて得られた2次微分スペクトルデータの夫々に対して、更に1次微分による微分処理を施して再微分スペクトルデータを求める第2演算処理手段と、その第2演算処理手段にて得られた再微分スペクトルデータ同士を比較することによって、その中に含まれる異質なデータを抽出する抽出処理手段と、前記複数の被計測物についての分光スペクトルデータ群の中から前記異質なデータを除去した残りの分光スペクトルデータ群を検量式作成用のデータとして特定するデータ特定手段とを備えて構成されている分光分析装置用のデータ処理装置。

FI (2)：

G01N 21/27 F ,  G01N 21/27 Z

F-Term (20)：

2G059AA05 ,  2G059BB11 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM12