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J-GLOBAL ID：200903018910678380

表面欠陥検査方法

Inventor： 榊原 正人 ,  山田 清
Applicant, Patent owner： トヨタ自動車株式会社
Agent (1)： 田渕 経雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999237958
Publication number (International publication number)：2001059717
Application date： Aug. 25, 1999
Publication date： Mar. 06, 2001
Summary：

【要約】【課題】 欠陥の検出が可能な表面欠陥検査方法の提供。【解決手段】 明暗パターン1bを有した光源1を検査表面4に写し出してカメラ2を介してコンピュータ3に画像取込みする工程と、取り込んだ画像の濃度ヒストグラムを作成する工程と、画像の濃度ヒストグラムにより欠陥6を検出する工程と、を有する表面欠陥検査方法。

Claim (excerpt)：

明暗パターンを有した光源を検査表面に写し出してカメラを介してコンピュータに画像取込みする工程と、取り込んだ画像の濃度ヒストグラムを作成する工程と、前記画像の濃度ヒストグラムにより欠陥を抽出する工程と、を有する表面欠陥検査方法。

IPC (2)：

G01B 11/30 ,  G01N 21/88

FI (3)：

G01B 11/30 A ,  G01N 21/88 J ,  G01N 21/88 Z

F-Term (40)：

2F065AA49 ,  2F065BB05 ,  2F065CC11 ,  2F065CC31 ,  2F065FF42 ,  2F065GG02 ,  2F065GG15 ,  2F065HH06 ,  2F065HH07 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL41 ,  2F065LL49 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ34 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ43 ,  2F065RR05 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2G051AA89 ,  2G051AB07 ,  2G051AB12 ,  2G051BB07 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 表面平滑性の検査方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-220728   Applicant：タキロン株式会社
• 構築面の質を判定する装置及びその方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-059648   Applicant：ビック-ガルトナー・ゲーエムベーハー
• 被検物の欠点検査方法および検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-115543   Applicant：旭硝子株式会社