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J-GLOBAL ID：200903018947200846

レンズ検査方法

Inventor： 大内 孝司 ,  青柳 真也 ,  関 博之
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 奈良 武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001164240
Publication number (International publication number)：2002357508
Application date： May. 31, 2001
Publication date： Dec. 13, 2002
Summary：

【要約】【課題】 干渉計を厳密に維持・管理しなくても、被検レンズの収差量を精度良く測定する。【解決手段】 参照レンズを透過した光束と被検レンズを透過した光束とを干渉させ、発生する干渉縞から被検レンズの収差量の検査を行う際、被検レンズの光軸と被検レンズの回転中心とを一致させ、被検レンズの0°位置でのフリンジスキャン測定し、その測定結果をツェルニケ係数展開する。次に、被検レンズを光軸中心に90°回転し、90°位置でのフリンジスキャン測定して測定結果をツェルニケ係数展開する。更に、被検レンズを光軸中心に90°回転し、0°位置に対する180°位置でのフリンジスキャン測定し、その測定結果をツェルニケ係数展開する。そして、ツェルニケ係数から被検レンズの回転に伴う変化量のみを算出し、この変化量から干渉計が持つ収差量を除去した被検レンズの収差量を算出する。

Claim (excerpt)：

光源からの光束を2分し、一方の光路中に比較基準となる参照レンズを配置し該参照レンズを透過した光束と、もう一方の光路中に被検レンズを配置し該被検レンズを透過した光束とを、干渉させて発生する干渉縞から前記被検レンズの収差量の検査を行うレンズ検査方法において、前記被検レンズを測定後、前記被検レンズの光軸を回転中心として最初の測定位置に対して90度単位で2位置以上測定し、それぞれの測定結果をツェルニケ係数展開し、この展開されたツェルニケ係数から前記被検レンズの回転に伴う変化量のみを抽出し、前記変化量から検査装置自体が持つ収差量を除去した前記被検レンズの収差量を算出することを特徴とするレンズ検査方法。

F-Term (1)：

2G086HH06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• レンズ総合検査機
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-256513   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 光学性能測定方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-125678   Applicant：オリンパス光学工業株式会社