放射性表面汚染検出器

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：吉田研二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994016054
Publication number (International publication number)：1995225279
Application date： Feb. 10, 1994
Publication date： Aug. 22, 1995
Summary：

【要約】【目的】被測定物が凹凸を有する場合や被測定物と放射性表面汚染検出器の検出部との距離を一定に保つことができない場合でも一定の検出効率で放射線の測定を行い汚染度を表示することのできる放射性表面汚染検出器を提供する。【構成】プローブ14によって被測定物の表面に付着した放射性物質から放射される放射線を測定し、同時に距離検出器24によって被測定物とプローブ14との距離を検出する。そして、汚染度換算部26はプローブ14によって測定された測定値を距離検出器24によって検出された距離に基づいて被測定物に対して所定距離から測定した放射線汚染度に換算する。従って、プローブ14と被測定物との相対する距離が変動した場合でも一定の検出効率で放射線の測定を行い汚染度を測定することができる。

Claim (excerpt)：

被測定物の表面に付着した放射性物質から放射される放射線を測定する放射線測定器と、被測定物と放射線測定器との距離を検出する距離検出器と、前記放射線測定器で測定した測定結果を前記距離検出器で検出された距離に基づいて被測定物に対する所定距離から測定した放射線汚染度に換算する汚染度換算部と、を有することを特徴とする放射性表面汚染検出器。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

特開平3-092788
特開昭62-297775
放射線検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-017488 Applicant：株式会社東芝

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