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J-GLOBAL ID：200903019082924025

3次元形状高さ測定装置

Inventor： 中村 雅俊 ,  小林 彰
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000108769
Publication number (International publication number)：2001289621
Application date： Apr. 11, 2000
Publication date： Oct. 19, 2001
Summary：

【要約】【課題】 対象物の3次元高さ測定を高精度でしかも高速に計測・検査できる3次元形状高さ測定装置を提供する。【解決手段】 対象物2に光23を照射してその反射光をレンズ4と撮像素子5aを介して取り込んで対象物2の高さhを画像処理を用いて計測・検査する3次元形状高さ測定装置であって、レンズ4を反射光の光軸17に対して垂直に配置し、撮像素子5aを反射光の光軸17に対して角度をつけて配置する。

Claim (excerpt)：

対象物に光を照射してその反射光をレンズと撮像素子を介して取り込んで前記対象物の高さを画像処理を用いて計測・検査する3次元形状高さ測定装置であって、前記レンズを前記反射光の光軸に対して垂直に配置し、前記撮像素子を前記反射光の光軸に対して角度をつけて配置した3次元形状高さ測定装置。

IPC (6)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/245 ,  G06T 1/00 400 ,  H04N 5/225 ,  H04N 17/04 ,  H04N 13/02

FI (7)：

G06T 1/00 400 C ,  H04N 5/225 D ,  H04N 5/225 Z ,  H04N 17/04 Z ,  H04N 13/02 ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 N

F-Term (58)：

2F065AA24 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB18 ,  2F065CC00 ,  2F065DD03 ,  2F065DD06 ,  2F065EE08 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL10 ,  2F065LL59 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ38 ,  2F065TT02 ,  2F065UU02 ,  5B047AA07 ,  5B047AA11 ,  5B047AB02 ,  5B047BB04 ,  5B047BC01 ,  5B047BC05 ,  5B047BC12 ,  5B047BC14 ,  5B047BC23 ,  5B047DB01 ,  5B047DC02 ,  5B047DC06 ,  5C022AA01 ,  5C022AA15 ,  5C022AB15 ,  5C022AB43 ,  5C022AB46 ,  5C022AB68 ,  5C022AC41 ,  5C022AC51 ,  5C022AC69 ,  5C022AC78 ,  5C061AB04 ,  5C061AB08 ,  5C061BB03 ,  5C061CC05 ,  5C061EE21