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J-GLOBAL ID：200903019235967373

半導体レーザ装置

Inventor：
佐藤 和芳

About 佐藤 和芳


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996258670
Publication number (International publication number)：1998079551
Application date： Sep. 30, 1996
Publication date： Mar. 24, 1998
Summary：
【要約】【課題】 半導体レーザの発振光の出力レベルと波長の双方を安定化させる。【解決手段】 半導体レーザ素子と、半導体レーザ素子の近傍の温度を検出する第1の温度検出器と、半導体レーザ素子を加熱または冷却する電子冷却器とを備え、半導体レーザ素子の発振光から第1及び第2の分岐光をそれぞれ取出す第1及び第2の分岐器と、第1の分岐光のうちあらかじめ定められた波長帯域の光のみを透過させるバンドパスフィルタと、第2の分岐光を発振光の発振可能な波長帯域内で波長の変化に伴って通過損失が一方向に増加または減少するように透過させ、第2のモニタ光を出力する光フィルタとを備えている。各波長を透過する光のレベルをそれぞれ検出して、バンドパスフィルタを透過する光のレベルが増加したときは、光フィルタを透過する光レベルの増加、減少により波長変移方向を検出して電子冷却器により温度変化を与え半導体レーザ素子の波長を制御する。
Claim (excerpt)：
半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ素子に電流を注入する電流注入手段と、前記半導体レーザ素子の近傍の温度を検出する温度検出手段と、前記半導体レーザ素子を加熱または冷却する加熱冷却手段と、前記半導体レーザ素子から出射される発振光から第1の分岐光を取り出す第1の分岐手段と、前記第1の分岐光のうちあらかじめ定められた波長帯域の光のみを透過させ第1のモニタ光を出力する第1の波長選択手段と、前記第1のモニタ光のレベルを検出する第1のレベル検出手段と、前記半導体レーザ素子から出射される発振光から第2の分岐光を取り出す第2の分岐手段と、第2の分岐光を、前記発振光の発振可能な波長帯域内で波長の変化に伴って通過損失が一方向に増加または減少するように透過させ、第2のモニタ光を出力する第2の波長選択手段と、前記第2のモニタ光のレベルを検出する第2のレベル検出手段と、前記発振光から第3のモニタ光を受光して該第3のモニタ光のレベルを検出する第3のレベル検出手段とを備えていることを特徴とする半導体レーザ装置。
IPC (2)：
H01S 3/133 ,  H01S 3/18
FI (2)：
H01S 3/133 ,  H01S 3/18
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 特開平1-251681
  • レーザダイオード発光波長制御装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-167335   Applicant：日本電気株式会社
  • 半導体レーザ装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-142477   Applicant：日本電気株式会社
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