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J-GLOBAL ID：200903019440541184

質量分析用チップおよびこれを用いたレーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置、質量分析システム

Inventor： 服部 渉 ,  馬場 雅和 ,  佐野 亨 ,  飯田 一浩 ,  川浦 久雄 ,  井口 憲幸 ,  染谷 浩子 ,  麻生川 稔
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 速水 進治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002349258
Publication number (International publication number)：2004184137
Application date： Nov. 29, 2002
Publication date： Jul. 02, 2004
Summary：

【課題】試料、特に微量の試料を効率よく濃縮し、乾燥するためのLDI-TOFMS用質量分析用チップを提供する。また、試料を乾燥した後、LDI-TOFMS測定の基板として用いるための質量分析用チップを提供する。【解決手段】基板101にエッチング等により孔103を形成する。孔103に試料溶液を滴下し、乾燥試料を得る。得られた乾燥試料を基板101ごとLDI-TOFMS測定に供する。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

液体試料を乾燥させレーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析用試料を調製するためのチップであって、基板と、該基板の表面に凹状に形成された試料乾燥部とを有し、前記試料乾燥部の少なくとも一部に金属層を有することを特徴とする質量分析用チップ。

IPC (6)：

G01N27/62 ,  G01N1/00 ,  G01N1/28 ,  G01N27/64 ,  H01J49/04 ,  H01J49/10

FI (7)：

G01N27/62 K ,  G01N27/62 F ,  G01N1/00 101H ,  G01N27/64 B ,  H01J49/04 ,  H01J49/10 ,  G01N1/28 L

F-Term (14)：

2G052AA28 ,  2G052AD06 ,  2G052AD52 ,  2G052DA05 ,  2G052FD18 ,  2G052GA24 ,  5C038EE02 ,  5C038EF15 ,  5C038EF17 ,  5C038EF22 ,  5C038EF25 ,  5C038GG07 ,  5C038GH05 ,  5C038GH06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• サンプルプレート
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-186606   Applicant：富士写真フイルム株式会社
• 試料分取方法及びそのための装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-033259   Applicant：科学技術振興事業団
• マトリクス支持式レーザー脱離法の測定で用いられる質量分析システムおよび方法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平8-505748   Applicant：パーセプティブバイオシステムズインコーポレーテッド