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J-GLOBAL ID：200903019462296329

構造良否検査装置

Inventor： 伊藤 剛
Applicant, Patent owner： スズキ株式会社
Agent (1)： 高橋 勇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996080984
Publication number (International publication number)：1997243503
Application date： Mar. 08, 1996
Publication date： Sep. 19, 1997
Summary：

【要約】【課題】 被測定物の剛性の良否を高速かつ確実に検査すること。【解決手段】 伝達関数生成部10によって生成された伝達関数の特徴部分を抽出する特徴部分抽出部12と、この伝達関数の特徴部分に基づいて被測定物の構造の良否を判定する構造良否判定部14とを備え、特徴部分抽出部12が、予め定められた標準伝達関数の共振点の位置に基づいて伝達関数の複数の共振点部分の波形を切り出す共振点切り出し機能20を備えている。さらに、構造良否判定部14が、共振点切り出し機能20によって切り出された切り出し波形の共振点の大きさと周波数とに基づいて当該共振点の値が標準伝達関数による標準値よりも小さいときに当該共振点の周波数が低い場合は不良と判定すると共に、当該共振点の値が標準伝達関数による標準値よりも大きいときに当該共振点の周波数が高い場合には良品と判定する周波数別良否判定機能26を備えた。

Claim (excerpt)：

被測定物の自由振動に基づいて伝達関数を生成する伝達関数生成部と、この伝達関数生成部によって生成された伝達関数の特徴部分を抽出する特徴部分抽出部と、この特徴部分抽出部によって抽出された伝達関数の特徴部分に基づいて前記被測定物の構造の良否を判定する構造良否判定部とを備えた構造良否検査装置において、前記特徴部分抽出部が、予め定められた標準伝達関数の共振点の位置に基づいて前記伝達関数の複数の共振点部分の波形を切り出す共振点切り出し機能を備え、前記構造良否判定部が、前記共振点切り出し機能によって切り出された切り出し波形の共振点の大きさと周波数とに基づいて当該共振点の値が前記標準伝達関数による標準値よりも小さいときに当該共振点の周波数が低い場合は不良と判定すると共に、当該共振点の値が前記標準伝達関数による標準値よりも大きいときに当該共振点の周波数が高い場合には良品と判定する周波数別良否判定機能を備えたことを特徴とする構造良否検査装置。

IPC (6)：

G01M 7/02 ,  B23K 31/00 ,  G01H 13/00 ,  G01N 29/12 ,  G01N 29/22 501 ,  G06F 15/18 560

FI (6)：

G01M 7/00 A ,  B23K 31/00 L ,  G01H 13/00 ,  G01N 29/12 ,  G01N 29/22 501 ,  G06F 15/18 560 Z