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J-GLOBAL ID：200903019506034394

分光分析計の波長校正方法

Inventor： 石橋 仁志 ,  七里 雅隆 ,  上中 進 ,  辰己 保夫
Applicant, Patent owner： 株式会社クボタ
Agent (1)： 北村 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992228128
Publication number (International publication number)：1994074823
Application date： Aug. 27, 1992
Publication date： Mar. 18, 1994
Summary：

【要約】【目的】 分光分析計の現場での調整に伴う校正作業にあたっても、作業を能率的におこなうことが可能であるとともに、作業が容易な分光分析計の波長校正方法を得る。【構成】 アレイ型受光素子3に備えられる複数の素子の素子番号と受光光の波長との対応が既知である標準ユニットに対応させて調整対象のユニットに於ける素子番号と受光光の波長との対応を求める分光分析計の波長校正方法であって、測定波長範囲内において2つのピーク部を備える校正用光線束を、白色光を透過させることによって得られる校正用フィルター6を用意し、校正用光線束を標準ユニットに入射させて、2つのピーク部の波長を求め、この校正用光線束を調整対象のユニットに入射させてスペクトルのピークを検出する素子番号を検出して、調整対象のユニット内の素子番号と波長との対応を求める。

Claim (excerpt)：

分光対象の光線束が入射される凹面回折格子(2)と、前記凹面回折格子(2)より回折する回折光を受光するアレイ型受光素子(3)とを備えた分光分析計(1)に対し、前記アレイ型受光素子(3)に備えられる複数の素子の素子番号と受光光の波長との対応が既知である標準ユニットに対応させて、調整対象のユニットに於ける素子番号と受光光の波長との対応を求める分光分析計の波長校正方法であって、白色光を透過させることによって測定波長範囲内において2つのピーク部を備える校正用光線束を、得られる校正用フィルター(6)を用意し、前記校正用光線束を前記標準ユニットに入射させて、前記2つのピーク部の波長を求める準備工程と、前記校正用光線束を前記調整対象のユニットに入光させ、前記調整対象のユニットに於ける前記アレイ型受光素子の素子番号と波長との対応関係を、前記準備工程で得られる2つのピーク部の波長と前記2つのピーク部の波長の光を受光する前記調整対象ユニットに備えられるアレイ型受光素子の2つの素子番号とから求める校正工程とから構成される分光分析計の波長校正方法。

IPC (2)：

G01J 3/18 ,  G01N 21/27

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-106430
  
• 特開昭51-134173
  
• 特開昭63-010106