Pat
J-GLOBAL ID：200903019527755865

顕微鏡画像解析装置

Inventor：
荒井 祐仁

About 荒井 祐仁


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995160528
Publication number (International publication number)：1997018772
Application date： Jun. 27, 1995
Publication date： Jan. 17, 1997
Summary：
【要約】【目的】2次元像内の任意の点ないし領域を高速に測定でき、試料からの光量の時間変化を高速に測定することができる顕微鏡画像解析装置を得ることにある。【構成】顕微鏡1に取り付けて、試料7からの2次元光量分布の経時変化を測定する顕微鏡画像解析装置において、任意の画像から、任意の順番でデータをアクセス可能な2次元固体撮像素子10と、10からの2次元像から任意の画素を指定する画素アドレス指定手段11と、11により指定された読み出しアドレスを記憶するアドレス記憶手段12と、12に記憶されたアドレスを順次出力させるクロック発生手段13と、13に同期して1からの出力をデジタル変換するA/D変換手段14を具備した顕微鏡画像解析装置。
Claim (excerpt)：
顕微鏡に取り付けて、試料からの2次元光量分布の経時変化を測定する顕微鏡画像解析装置において、任意の画素から、任意の順番でデータをアクセス可能な2次元固体撮像素子と、この2次元固体撮像素子からの2次元像の任意の画素を指定する画素アドレス指定手段と、この画素アドレス指定手段により指定された読み出しアドレスを記憶するアドレス記憶手段と、このアドレス記憶手段に記憶されたアドレスを前記2次元固体撮像素子に対して順次出力させるアドレス発生手段と、前記順次出力されるアドレスの出力タイミングに同期して前記2次元固体撮像素子からの出力をデジタル変換するA/D変換手段と、このA/D変換手段により得られた輝度データを処理するデータ処理手段と、を具備した顕微鏡画像解析装置。
IPC (4)：
H04N 5/232 ,  G01N 21/01 ,  G02B 21/36 ,  H04N 5/335
FI (4)：
H04N 5/232 Z ,  G01N 21/01 ,  G02B 21/36 ,  H04N 5/335 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 特開平2-293650
  • 固体撮像装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-311191   Applicant：キヤノン株式会社
  • 画像入力装置の露光制御回路
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-259986   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM