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J-GLOBAL ID：200903019548662379

近接電磁界プローブ及びそれを用いた電磁界測定装置及び電磁界測定方法

Inventor： 小曽根 卓義
Applicant, Patent owner： 株式会社セガ・エンタープライゼス
Agent (1)： 北野 好人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997138086
Publication number (International publication number)：1998332754
Application date： May. 28, 1997
Publication date： Dec. 18, 1998
Summary：

【要約】【課題】 被測定物から放射される電磁波を測定する近接電磁界プローブ及びそれを用いた電磁界測定装置及び電磁界測定方法に関し、放射ノイズが柄部及び測定ケーブルに伝わりにくい近接電磁界プローブ及びそれを用いた電磁界測定装置及び電磁界測定方法を提供する。【解決手段】 測定ケーブル10に接続される柄部12と、柄部12に対して任意の角度で支持され、被測定物から放射される電磁波を受信するアンテナ18とを有している。

Claim (excerpt)：

測定ケーブルに接続される柄部と、前記柄部に対して任意の角度で支持され、被測定物から放射される電磁波を受信するアンテナとを有することを特徴とする近接電磁界プローブ。

IPC (2)：

G01R 29/08 ,  G01R 33/02

FI (3)：

G01R 29/08 F ,  G01R 29/08 D ,  G01R 33/02 B