物体の状態検知方法とその装置及びそれを用いた測距方法及び装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：小川勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992247583
Publication number (International publication number)：1994102343
Application date： Sep. 17, 1992
Publication date： Apr. 15, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】多方向に照射光をスキャンし複数の対象物との距離を測る測距装置において、戻り光を定位置に集光することを目的とする。【構成】光学系の構成を図1で示すようにした。回転するポリゴンミラーの一面で照射光を反射させて集束レンズで絞って測距対象へ照射する。測距対象から反射してきた戻り光をポリゴンミラーの別の一面で反射させて受光素子に集光させる。【効果】従来スキャンするとばらついていた戻り光の集光点を一点に定めることができ、受光素子の面積を小さくできる。これにより、受光素子そのものの応答性を上げることができる。同時に、受光素子への外乱となる光を受光しないので感度を上げることができた。

Claim (excerpt)：

光源から発する所定の光を回転多面鏡の一面で反射させ、その鏡面で反射した反射光がその進路に位置する物体に当たって反射して戻ってきたとき、その反射光の状態に基づいて物体の存在,物体の状態、あるいは物体までの距離等を検知する方法において、前記物体からの反射光を前記回転多面鏡の別の面で反射させて受け止めるようにしたことを特徴とする物体の状態検知方法。

IPC (8)：

G01S 7/48 , B60K 31/00 , B60T 7/12 , G01B 11/00 , G01C 3/06 , G01S 17/88 , G08B 7/00 , G08G 1/16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

特公昭58-019993
特開昭62-087808
特開平4-047209

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