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J-GLOBAL ID：200903019622152957

自動分析装置

Inventor： 三村 智憲
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993266044
Publication number (International publication number)：1995120471
Application date： Oct. 25, 1993
Publication date： May. 12, 1995
Summary：

【要約】【目的】本発明の目的は個々の検体のデータ異常について装置の異常、患者の異常を総合的に判断し、検査技師の違いによるデータ異常の検出ミスの防止,効率向上を図ることにある。【構成】自動分析装置のデータ処理部のデータチェック機能に、(1)装置アラームと前回値データとの比較チェック機能、(2)装置アラームと直前に測定したデータとの比較チェック機能を新たに設けた。検査技師がチェック論理、及び項目ごとにコメント内容,処理内容を指定可能とする。異常がある場合は、コメントを表示し、かつ分析部に再検査の有無,再検条件をリアルタイムに指示する。【効果】リアルタイムでデータチェックが自動的に実施され、検査室の効率化,データの信頼性が向上する。

Claim (excerpt)：

臨床検査において、複数の項目の測定が可能であり、かつ、複数の検体をセットすることができ、これら検体を順番に測定可能な自動分析装置において、3段階にわたってデータのチェックを行うものがあって、第1段階として、装置のアラームチェック、第2段階として、患者の前回値データと今回値データの比較検討、第3段階として、患者データの直前に測定されたデータと比較検討を行い、患者の異常と装置の異常を区別して検出することを特徴とする自動分析装置。

IPC (2)：

G01N 35/00 ,  G01N 35/02