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J-GLOBAL ID：200903019653443801

高温試料のレーザ発光分析装置用プローブおよび高温試料のレーザ発光分析方法

Inventor： 西藤 将之 ,  近藤 裕之 ,  安斎 栄尚 ,  渡邊 浩一
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社
Agent (1)： 石田 敬 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001134443
Publication number (International publication number)：2002328091
Application date： May. 01, 2001
Publication date： Nov. 15, 2002
Summary：

【要約】【課題】 試料からの輻射熱による光学系の保護と高精度な分析を可能とする高温試料用のレーザ発光分析装置用プローブおよびその分析方法を提供する。【解決手段】 高温試料のレーザ発光分析装置用プローブは、高温試料にパルスレーザ光を照射し、照射部からの発光スペクトルを測定するプローブであって、試料の被測定部を覆う形状のプローブ本体と、該プローブ本体に取りつけられたレーザ光による発光スペクトルを取り出すための窓に試料からの発光スペクトルを集光するための手段と、プローブ本体を熱から保護し、さらに分析部をガスシールするためのガス噴出し口をプローブ本体底面に具備することを特徴とする。高温試料の分析方法は、照射位置を移動させながら高温試料にパルスレーザ光をその照射し、連続的に発光スペクトルを測定することにより、目的とする1種もしくは2種以上の元素の濃度変化を測定することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

高温試料(7)にパルスレーザ光(3)を照射し、照射部(14)からの発光スペクトル(13)を測定する高温試料のレーザ発光分析装置用プローブであって、高温試料(7)の被測定部(15)を覆う形状のプローブ本体(1)と、該プローブ本体に取りつけられた窓(16)と、前記パルスレーザ光による前記発光スペクトルを取り出すための前記窓に向って高温試料からの発光スペクトルを集光するための手段(8)と、前記プローブ本体を熱から保護し且つ分析部(10)をガスシールするため前記プローブ本体底面に具備するガス噴出し口(6)と、を有することを特徴とする高温試料のレーザ発光分析装置用プローブ。

IPC (2)：

G01N 21/63 ,  G01J 3/443

FI (2)：

G01N 21/63 A ,  G01J 3/443

F-Term (23)：

2G020BA02 ,  2G020BA05 ,  2G020BA15 ,  2G020CA01 ,  2G020CB23 ,  2G020CD14 ,  2G043AA01 ,  2G043BA01 ,  2G043BA03 ,  2G043BA07 ,  2G043CA05 ,  2G043EA10 ,  2G043FA05 ,  2G043GA04 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA03 ,  2G043HA05 ,  2G043JA01 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043MA03