大気圧イオン化質量分析法のための信号対雑音比改善方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：柳田征史 , 佐久間剛
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002546184
Publication number (International publication number)：2004514263
Application date： Nov. 28, 2001
Publication date： May. 13, 2004
Summary：

衝突セルで隔てられた2つのマスフィルタを備える縦連質量分析計を利用する、イオンビームの信号対雑音比を改善する方法。第1のマスフィルタは、狭い質量対電荷比範囲の前駆体イオンだけが安定であり、所望の検体イオンのフラグメント化を最小限に抑えながら衝突活性化と、これに続く不要な脆弱イオンのフラグメント化とを促進するための中性ガスが入れられている衝突セルに向けて加速されるように、分解モードで作動する。第2のマスフィルタは、フラグメント化していないイオンだけがイオン検出器で記録されるように、第1のマスフィルタと同期して走査される。したがって、不要なバックグラウンドイオンより高いフラグメント化値を有する検体イオンが優先的に検出され、よってイオンビームの信号対雑音比が高められる。

Claim (excerpt)：

イオンビームの信号対雑音比を改善する方法において、【0002】 (1)前駆体イオンを選択するために、前記イオンビームを第1の質量分解過程にかけるステップ; (2)不要なイオンのフラグメント化及び反応の内の少なくとも一方を促進するために、前記前駆体イオンをガスと衝突させるステップであって、前記衝突により、前記不要なイオンは前記前駆体イオンの質量対電荷比とは異なる質量対電荷比を有する二次イオンを生成するものであるステップ;及び (3)前記前駆体イオンの質量対電荷比とは異なる質量対電荷比をもつイオンを除去することによって前記イオンビームの信号対雑音比を高めるために、前記二次イオンを含む前記イオンビームを第2の質量分解過程にかけるステップ; を含むことを特徴とする方法。

IPC (3)：

H01J49/26 , G01N27/62 , H01J49/42

FI (5)：

H01J49/26 , G01N27/62 E , G01N27/62 K , G01N27/62 L , H01J49/42

F-Term (1)：

5C038HH16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

タンデム質量分析計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-298100 Applicant：ユニサーチ・リミテツド

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