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J-GLOBAL ID：200903019661344022

立体構造処理装置

Inventor： 冨川 真弓 ,  相川 聖一 ,  松澤 史子
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 小笠原 吉義 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993173024
Publication number (International publication number)：1995028844
Application date： Jul. 13, 1993
Publication date： Jan. 31, 1995
Summary：

【要約】【目的】物質の二つの立体構造を重ね合わせたり,類似部分を抽出したりする立体構造処理装置に関し,重ね合わせ表示や,データベースからの類似構造の検索を自動化し,化学物質やタンパク質の構造解析における構造比較,類似構造検索等の作業を効率化する手段を提供することを目的とする。【構成】立体構造を形成する二つの点集合の各要素を対応付ける際に,組合せ生成処理手段14により,所定の制約条件を満たす要素の組合せを生成し,重ね合わせ算出処理手段15によってその組合せの中で各点間の平均二乗距離の平方根が所定のしきい値より小さく,かつ対応付けられた点間の距離も所定のしきい値より小さくなる重ね合わせ方法を算出する。また,検索の際には,類似性算出処理手段16により同様な重ね合わせ方法を用いて類似構造をデータベース21から自動的に探し出す。

Claim (excerpt)：

立体構造を形成する二つの点集合のデータを計算機により処理し,これらの点集合のデータによって表される二つの立体構造を重ね合わせる立体構造処理装置であって,前記二つの点集合の各要素を対応付ける際に,幾何学的な関係による候補の絞り込み,所定のしきい値条件による候補の絞り込み,または点の属性による候補の絞り込みを行い,これらの幾何学的制約,しきい値条件または点の属性を満たす要素の組合せを生成する組合せ生成処理手段(14)と,生成された組合せの中で各点間の平均二乗距離の平方根が所定のしきい値より小さく,かつ対応付けられる点間の距離も所定のしきい値より小さい対応付けを探し出すことによって二つの立体構造の最もよく一致する重ね合わせのための位置と方向を算出する重ね合わせ算出処理手段(15)と,算出された重ね合わせの結果を出力する結果出力処理手段(18)とを備えたことを特徴とする立体構造処理装置。

FI (2)：

G06F 15/40 370 F ,  G06F 15/419 310