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J-GLOBAL ID：200903019680261375

計測値上下限監視方式

Inventor： 横山 耕三
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 遠山 勉 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993040170
Publication number (International publication number)：1994251277
Application date： Mar. 01, 1993
Publication date： Sep. 09, 1994
Summary：

【要約】【目的】計測値に対する上下限値の設定又は変更を自動的に行うことのできる計測値上下限監視方式を提供する。【構成】監視手段1は検出手段3で検出された計測値を予め設定された上下限値と比較して計測値が上下限値を超えたか否かを監視する。上下限値設定手段8は計測手段3毎に複数種の上下限値を設定する。監視条件判定手段16は監視時間と前記設備機器の関連機器の動作状態とを含む監視条件が成立するか否かを判定する。上下限値選択手段17は上下限値設定手段8で設定された複数種の上下限値の内、監視条件が成立した時における検出手段3で検出された計測値を含む上下限値を選択し、その上下限値を監視手段1に出力するように構成した。

Claim (excerpt)：

設備機器の計測すべき値を検出する複数の検出手段(3)と、各々の検出手段(3)で検出された計測値を予め設定された上下限値と比較して計測値が上下限値を超えたか否かを監視する監視手段(1)とを備えた遠隔監視システムにおいて、各々の計測手段(3)毎に複数種の上下限値を設定する上下限値設定手段(8)と、計測値を上下限値により監視する場合に監視時間と前記設備機器の関連機器の動作状態とを含む監視条件が成立するか否かを判定する監視条件判定手段(16)と、前記上下限値設定手段(8)で設定された複数種の上下限値の内、前記監視条件が成立した時における前記検出手段(3)で検出された計測値を含む上下限値を選択し、その上下限値を前記監視手段(1)に出力する上下限値選択手段(17)とを有することを特徴とする計測値上下限監視方式。

IPC (2)：

G08B 23/00 ,  F24F 11/02