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J-GLOBAL ID：200903019694913278
物理量を光学的に求める方法および装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
矢野 敏雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995110907
Publication number (International publication number)：1996005462
Application date： May. 09, 1995
Publication date： Jan. 12, 1996
Summary：
【要約】【構成】 光源Lから光がファイバカプラFK、ガラスファイバケーブルF1、コリメータK1、偏光器P1、ビームスプリッタ1、ガラスプレート2,3を介して電気光学結晶4へ直線偏光されて入射される。この結晶の終端面に、ミラー7として作用する層電極6を有する第3のガラスプレート5が設けられている。電気光学結晶4の中に入射する光を後方反射し、反射光の部分ビームT1はビームスプリッタ1と、偏光器P1を介して光検出器D1へ達する。部分ビームT2はλ/4遅延プレート9、第2の偏光器D2、90°プリズム、コリメータK2、第2のガラスファイバケーブルF2を介して光検出器D2へ達する。光強度I1とI2はマイクロプロセッサ14を用いて評価される。両方の位相偏移された光信号を1つの共通の光チャンネルから導出することにより、電気光学結晶4の真性複屈折が光信号の位相差に影響を与えなくなる。
Claim (excerpt)：
光ビームが光学的媒質(4,16)を通過する際に光の位相偏移を生ぜしめる物理量を光学的に求める方法であって、a)3つの特性軸(H1,H2,H3)を有する電気光学結晶(4)の第1の電気光学特性軸(H1)からの所定の第1の偏向角度を有する直線偏波された入力光ビームを、電気光学結晶(4)の中を案内し、b)電気光学結晶(4)から出てゆく2つの第1および第2の部分ビーム(T1,T2)を検出し、c)第1の電気光学特性軸(H1)もこれと直角の第2の電気光学特性軸(H2)も、第3の特性軸(H3)に直角に配向されている平面内に設けられており、該平面において、電界または力の場が存在しない時は、光は偏光に依存して伝播し、電界または力の場が電気光学結晶(4)へ作用すると、光は、第2の電気光学特性軸(H2)の方向へ伝播するよりも第1の電気光学特性軸(H1)の方向へ一層速く伝播する形式の前記の方法において、d)この入力光ビームを反転後にこの電気光学結晶(4)の中を戻り路へ変向させ、e)次にビームスプリッタ(1)と第1の偏光器(P1)を通過させて一方では第1の光電検出器(D1)へ案内し、該光電検出器は出力側で第1の位相信号(I1)を供給し、f)他方では所定の第1の移相作用を有する移相器(9)と第2の偏光器(P2)を介して第2の光電検出器(D2)へ案内し、該光検出器は出力側に第1の位相信号(I1)に対して位相の偏移された第2の位相信号(I2)を供給することを特徴とする、物理量を光学的に求める方法。
IPC (4)：
G01J 4/00
, G01D 5/26
, G01M 11/00
, G01N 21/23
