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J-GLOBAL ID：200903019712549406

表面欠陥検査方法及び装置

Inventor： 横尾 雅一 ,  守屋 進
Applicant, Patent owner： 川崎製鉄株式会社
Agent (1)： 高矢 諭 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993151881
Publication number (International publication number)：1994082390
Application date： Jun. 23, 1993
Publication date： Mar. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】 撮像装置によって撮像した表面欠陥を処理して、微妙な色むら状の表面欠陥などを正確に検出できるようにする。【構成】 2色以上の色成分を撮像できる撮像装置を用いて、撮影された各色成分から、輝度の平均値より計算されたオフセット値を引き、各色成分を足し合わせ、特定の値で二値化処理することにより、微小な欠陥成分を強調する撮像画面を作成する。

Claim (excerpt)：

表面を撮像して得た画像データから、被検査物体の表面欠陥を検出する表面欠陥検査方法において、2色以上の色成分を撮像できる撮像装置を用いて、撮影された各色成分から、特定のオフセット値を引き、各色成分を足し合わせることにより、微小な欠陥信号を強調する撮像画面を作成することを特徴とする表面欠陥検査方法。

IPC (2)：

G01N 21/89 ,  G01B 11/30